Wykorzystanie technik sztucznej inteligencji w projektowaniu układów elektronicznych z fluktuacją parametrów

StreszczenieWykaz podstawowych skrótów i oznaczeń1. Wstęp1.1. Ogólne zasady uwzględniania fluktuacji wartości parametrów elementów w procesie projektowania układów elektronicznych1.2. Sposoby poprawy jakości projektu przy fluktuacji jego parametrów1.3. Główne metody rozwiązywania problemu centrowania i optymalizacji uzysku1.4. Podsukowanie2. Podstawowe problemy w projektowaniu monolitycznych układów scalonych związane z rozrzutem wartości ich parametrów2.1. Rodzaje układów scalonych z punktu widzenia specyfiki projektowania2.2. Zjawiska negatywne występujące w układach scalonych2.3. Podsumowanie3. Związek modelu układu elektronicznego z metodą optymalizacji - przegląd metod optymalizacji uwzględniających rozrzuty wartości parametrów3.1. Metody deterministyczne3.2. Optymalizacja układu elektronicznego z modelem statystycznym układu3.3. Podsumowanie4. Wybrane problemy optymalizacji projektu układu elektronicznego przy pomocy sztucznych sieci neuronowych4.1. Przyczyny stosowania SSN w rozwiązaniu zagadnienia optymalizacji4.2. Sposoby optymalizacji z zastosowaniem SSN4.3. Przykład zastosowania SSN w zadaniu optymalizacji4.4. Podsumowanie5. Systemy wnioskowania rozmytego w projektowaniu układów elektronicznych5.1. Przyczyny zainteresowania zastosowaniami systemów rozmytych do optymalizacji układów elektronicznych5.2. Podstawowe wiadomości z logiki rozmytej i zbiorów rozmytych5.3. Przykład projektowania układu elektronicznego wspomaganego systemem wnioskowania rozmytego5.4. Podsumowanie6. Wybrane metody poprawy własności projektu układu elektronicznego wykorzystujące funkcje wrażliwości i sztuczną sieć neuronową6.1. Zalety podejścia projektowania dedykowanego (dla wybranej klasy układów elektronicznych) wykorzystujące metody sztucznej inteligencji6.2. Optymalizacja w układach filtrów IRS wyższych rzędów6.3. Przykłady zastosowań metody6.4. Podsumowanie7. Uwagi końcoweLiteraturaSummary